单粒子翻转（SEU）：星载计算机中最常见的错误，是由于高能粒子轰击双稳态单元，使原来记忆单元的0或1状态翻转，这种错误不是永久性的，也被称为软错误。SEU的发生概率远大于TID和SEL，但危害性也小于前两者。最容易发生SEU的地方是RAM，其次是CPU，再其次是其它的接口电路。
想要了解更多“SEU（单粒子翻转）”的信息，请点击：SEU（单粒子翻转）百科
标签：SEU（单粒子翻转）,SEU
版权声明：文章由 淘百问 整理收集，来源于互联网或者用户投稿，如有侵权，请联系我们，我们会立即处理。如转载请保留本文链接：https://www.taobaiwen.com/life/105502.html
